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Fundamentals of power diffraction and structural characterization of materials
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| Location | Call Number / Copy Notes | Barcode | Shelving Location | Status | Due Date |
|---|---|---|---|---|---|
| Biblioteca Ipicyt | QC482P4 F8 2009 | AVA00607 | Coleccion General | Available | - |
| Biblioteca Ipicyt | QC482P4 F8 2009 | AVA00608 | Coleccion General | Available | - |
Record details
- ISBN: 9780387095783
-
Physical Description:
regular print
xiii, 741 páginas : ilustraciones ; 24 cm. - Edition: Second edition.
- Publisher: New York, NY : Springer, [2009].
- Copyright: c2009.
Content descriptions
| General Note: | IPICYT ; Proyecto/Dr. Jose Luis Sánchez Llamazares/CONACYT-3953 Programa de fortalecimiento académico del Posgrado/R.3248 ; 2014. En inglés. |
| Bibliography, etc. Note: | Incluye bibliografía e índice. |
| Immediate Source of Acquisition Note: | IPICYT ; Proyecto/Dr. Jose Luis Sánchez Llamazares/CONACYT-3953 Programa de fortalecimiento académico del Posgrado/R.3248 ; 2014. |
| Language Note: | En inglés. |
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| Subject: | Polvos Propiedades ópticas Medición Rayos X Difracción Medición Cristalografía de rayos X |
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